為了提高生產(chǎn)車間內(nèi)微電子元器件的篩查效率，Sonoscan 專門設(shè)計了Fastline? P300? 超聲波掃描顯微鏡。作為超聲顯微成像技術(shù)的新平臺，F(xiàn)astline的緊湊設(shè)計縮小了占地空間，其獨特的輸送系統(tǒng)能夠在掃描一個JEDEC托盤或樣品盤的同時將下一次要掃描的樣品放在水中的另一個托盤上等到掃描。

Fastline? P300?特色：

獨特輸送系統(tǒng)有助于實現(xiàn)產(chǎn)量的提高
精確定位，更快掃描及自動化分析
運用Visual PolyGate? 技術(shù)實現(xiàn)簡易快捷的多層深度掃描
多語種操作系統(tǒng)及直觀的操作界面
人體工程學(xué)設(shè)計以提高操作者的舒適度和工作效率
占地面積小，適宜在車間使用

C-SAM 杰出的超聲顯微成像技術(shù)

超聲顯微技術(shù)的杰出之處在于它能夠在組件和材料中找出可能在生產(chǎn)或可靠性試驗中出現(xiàn)的隱藏的缺陷。

不同于X射線和紅外成像等其他無損檢測技術(shù)，超聲顯微成像技術(shù)則是利用超聲波對材料彈性特性較為敏感的特性。超聲波可能會因為接觸物質(zhì)的改變而被吸收、散射或反射，而且對空氣間隙特別敏感。

Sonscan? 提供多種成像模式，操作員可以根據(jù)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)特征選擇適當(dāng)?shù)某上穹绞揭垣@得有關(guān)檢驗樣品的掃描圖像。此外，通過利用我們的專有的先進(jìn)功能，Sonscan可以提供高清晰的圖像、高效率和良好的檢測結(jié)果。

Sonscan的C-SAM成像技術(shù)用于發(fā)現(xiàn)及分析在生產(chǎn)過程或可靠性測試過程中出現(xiàn)的缺陷。比起其他檢測方法，使用超聲顯微成像方法更能有效地識別并分析脫層、空洞及裂縫等缺陷。